冲成股份有限公司 JC's Chunson Limited
DIP-View 是高解析度偏折測量(High-Resolution Deflectometry)領域的先驅,專注於關鍵表面計量技術,適用於翹曲(Warpage)、粗糙度(Roughness)及奈米地形(Nano-Topography)等應用。
DIP-View 服務於多個產業,包括半導體、汽車及光學領域,致力於推動顛覆性的計量技術創新。
總部位於法國圖盧茲,DIP-View 持續拓展精密測量技術的前沿。
官網:https://www.dip-view.com/
  • 偏折量測設備

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