DIP-View 是高解析度偏折測量（High-Resolution Deflectometry）領域的先驅，專注於關鍵表面計量技術，適用於翹曲（Warpage）、粗糙度（Roughness）及奈米拓撲（Nano-Topography）等應用。
DIP-View 服務於多個產業，包括半導體、汽車及光學領域，致力於推動顛覆性的計量技術創新。
總部位於法國圖盧茲，DIP-View 持續拓展精密測量技術的前沿。
https://www.dip-view.com/