E+H Metrology 開發先進的測量系統和軟體，服務於高科技產業，包括半導體、微電子、機械工程和陶瓷業等領域。
E+H Metrology專長在於對晶圓、太陽能產品及其他尖端材料進行超精密測量，精度可達次奈米級。
擁有超過 50 年的經驗，E+H Metrology 的跨學科團隊致力於開發高度專業化且客製化的測量解決方案，以滿足各種測量需求。
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