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E+H Metrology GmbH
太陽能光伏設備
MX 203-6-41-q
MX 203-6-41-q
原價
NT$ 0
高吞吐量:MX203-6-41-q 可在最多 8 秒內對每個晶圓的 41 個測量點進行測量。它控制厚度、彎曲和扭曲。透過各種定心框架靈活調整晶圓尺寸。配備我們強大的MX-NT操作軟體。
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規格
Wafer Diameter
100mm, 125mm, 156mm
Thickness Accuracy
±0.5 µm
Resolution
50nm
Thickness range
160 - 700 µm
Automatic wafer
no
Software
MXNT